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干法激光粒度儀的測(cè)試指標(biāo)及其重要性

發(fā)布日期: 2023-08-01
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  隨著科技的不斷發(fā)展,粒度分析技術(shù)得到了廣泛應(yīng)用,尤其是干法激光粒度儀。其測(cè)試范圍廣泛,涵蓋了納米至微米范圍內(nèi)的粉體顆粒,為科學(xué)研究、工業(yè)生產(chǎn)和產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。粒度儀主要測(cè)試指標(biāo)包括以下幾點(diǎn):
  

干法激光粒度儀

 

  1、粒徑分布
  
  粒徑分布是衡量粒度儀性能的核心指標(biāo)。測(cè)試結(jié)果應(yīng)當(dāng)具有良好的重復(fù)性和再現(xiàn)性,以確保測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。粒徑分布范圍通常包括粗粒區(qū)(大于某一粒徑)和細(xì)粒區(qū)(小于某一粒徑)。合理的粒徑分布有助于評(píng)估粉體材料的均勻性和穩(wěn)定性。
  
  2、分辨率
  
  分辨率是指干法激光粒度儀能夠分辨的最小顆粒直徑。分辨率越高,測(cè)試結(jié)果越精確。對(duì)于不同應(yīng)用場(chǎng)景,用戶需要根據(jù)實(shí)際需求選擇合適的分辨率。
  
  3、Zeta電位
  
  Zeta電位是顆粒表面所帶電荷與顆粒內(nèi)部所帶電荷之間的差值。Zeta電位的測(cè)試有助于了解粉體材料的表面特性,對(duì)于研究粉體材料的分散穩(wěn)定性、吸附性等具有重要意義。
  
  4、比表面積
  
  比表面積是指單位質(zhì)量顆粒的表面積。對(duì)于很多需要分析比表面積的應(yīng)用場(chǎng)景,如吸附劑、催化劑等,粒度儀能夠提供準(zhǔn)確的比表面積數(shù)據(jù)。
  
  5、顆粒形狀
  
  顆粒形狀對(duì)于許多工程應(yīng)用具有重要意義,如粉體材料在涂料中的分散性、在膠粘劑中的粘附性等。粒度儀可以測(cè)量顆粒的球形度、不規(guī)則度等形狀參數(shù),為用戶提供顆粒形狀方面的信息。
  
  6、動(dòng)態(tài)光散射(DLS)
  
  DLS是一種能夠測(cè)量顆粒在流動(dòng)或沉降過(guò)程中的尺寸變化的技術(shù)。動(dòng)態(tài)光散射可以用于研究顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)、顆粒間的相互作用等。
  
  干法激光粒度儀的測(cè)試指標(biāo)涵蓋了粒徑分布、分辨率、Zeta電位、比表面積、顆粒形狀以及動(dòng)態(tài)光散射等多個(gè)方面。這些指標(biāo)對(duì)于評(píng)估粉體材料的特性、優(yōu)化生產(chǎn)工藝、提高產(chǎn)品質(zhì)量等方面具有重要意義。在實(shí)際應(yīng)用中,用戶需要根據(jù)具體需求選擇合適的測(cè)試指標(biāo),以獲得更準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。
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